microscop cu raze X - l

microscop. concepute pentru a studia microstructura obiectelor în raze X. Limita de rezoluție R. m. Rezoluția poate depăși microscoape ușoare 2-3 ordine de mărime, în conformitate cu raportul dintre lungimea de undă de l Roentgen. și radiație vizibilă. luate radiații Corolar-ray Specificitatea cu CMV conduce la un contrast Roentgen. Opt. Sisteme de lumină. deviație mică a indicelui de refracție al razelor X. Razele de la unitate (mai puțin de 10-4), practic, nu le permite să se concentreze lentile și prisme. Electrice. și magneziu. lentile pentru acest scop nu se aplică, de asemenea, de ex., o. Razele X. radiație inert la electric. și magneziu. câmpuri. Prin urmare, în P. m. Pentru a focaliza razele X. Raze folosit fenomenul lor extern plin. reflexie curbe sau planuri de reflexie ale cristalografice lor. avioane (reflectorizante în P. m.). A fost de asemenea posibil să se construiască P. m. Principiul proiecției umbra a obiectului într-un fascicul divergent de raze dintr-o sursă punct (proiecție sau umbră P. m.). Reflectorizantă P. m. Cuprinde o sursă de raze X microfocus. radiație, reflectoare curbate, oglinzi din sticlă (cuarț cu strat aplicat de aur pe ea) sau monocristaline îndoite și detectoare de imagine (filme fotografice, convertoare electro-optice). Fig. 1 prezintă o diagramă a căii de raze în P. m. Cele două oglinzi sunt rotite una în raport cu celălalt cu 90 °. Pregătirea rezoluție ridicată într-un P. m. Un mic unghi limitat total extern. reflexie (unghiul de alunecare de 1 m) și cerințe foarte rigide profil și calitatea prelucrării suprafețelor oglinzi (rugozitate admisibile = 1 nm).

Fig. 1. Diagrama de focalizare radiografiile. Razele în reflectorizante R. m cu două oglinzi încrucișate :. OO'-Opt. axa sistemului; A - obiect, o „imaginea sa. Majorarea O'A „/ OA.

Rezoluția completă de P. m. L și depinde deschiderea unghiulară nu depășește unghiul de alunecare. Ex. pentru radiații cu l = 0,1 nm și difracție de alunecare unghi de 25“. soluție nu depășește 8,5 nm (mărire 105). Atunci când este utilizat pentru a concentra razele X. radiație indoite monocristale, în plus față de decembrie aberații ale sistemelor optice, calitatea imaginii afectate imperfecțiuni cristae. structură precum difracție finală cu raze X valoarea unghiului Bragg. Proiecție P. m. Include radiografii. sursa sverhmikrofokusom cu un diametru d = 0,1- camera 1 nm pentru primirea obiectului testat și dispozitivul de înregistrare. Amplificare M de proiecție. . R m determinat de raportul distanțelor de la sursa de radiație la obiect (e) la detector și (b): M = b / a (figura 2). Rezoluția de proiecție liniară. P. m. Ajunge la 0,1-0,5 nm. Geom. Rezoluția este determinată de neclaritate (penumbra) marginea RG obiect în funcție de mărimea unei surse Roentgen. Razele și cresc M: Pg = Md. Difracția. Rezoluția depinde de difracție. franjurilor Fresnel asupra ES GP = al1 / 2 regiuni, și în care - distanța de la sursa la obiect. Deoarece o nu poate fi mai mică de 1 nm rezoluție pentru l = 0,1 nm de 10 nm (în cazul în care dimensiunea sursei va furniza aceeași rezoluție Geom.). Contrastul în imagine apare datorită diferenței în absorbția radiației în dec. secțiuni ale obiectului. Această diferență este determinată de sensibilitatea umbrei și P. m.

P. m. Poate fi echipat cu decembrie convertoare cu raze x. imagine vizibilă în legătură cu sistemele de televiziune.

Datorită mici cu raze X microscop cu lungime de undă X-raze. radiația R. m. poate ajunge la difracția. Rezoluția de ordinul mai multor. zeci nm și teoretică. cea mai mare rezoluție ocupă o poziție intermediară între microscoapele optice și de electroni. El ne permite să studiem nu numai distribuția densității totale a materiei, dar, de asemenea, distribuția de densități Dep. Chem. Elementele caracteristice ale acestora. X-ray. emisie (absorbție). Spre deosebire de microscop electronic, P. m. Bpol permite investigarea live. obiecte.

Prin metoda de formare a imaginii distinge de proiecție, PIN-ul,

Vezi ce „microscopia cu raze X“ în alte dicționare:

microscop cu raze X - un dispozitiv pentru studiul structurii microscopice a obiectelor cu ajutorul razelor X. Proeminenței (umbră) cu raze X microscop obiect (ex. Secțiunea botanică) este situată în apropierea unei surse de raze X punct; ... Collegiate Dicționar

microscop cu raze X - un dispozitiv pentru studiul microstructurii diferitelor obiecte din radiația cu raze X, limita de rezoluție poate fi mai mare decât rezoluția microscoape ușoare 2 3 ordine de mărime. P. m. Poate fi echipat cu o varietate de convertoare de raze X ... ... Cele mai multe Polytechnique Encyclopedia

microscop cu raze X - aparat microscop cu raze X pentru studiul obiectelor foarte mici, cu dimensiuni comparabile cu lungimea de undă a razelor X. Ea se bazează pe utilizarea de radiație electromagnetică cu o lungime de undă de 0,01 până la 1 nanometri. Raze X ... ... Wikipedia

microscop cu raze X - un dispozitiv pentru studiul structurii microscopice a obiectelor cu ajutorul razelor X. Proeminenței (umbrei) microscop cu raze X, un obiect (de exemplu, o secțiune botanică) este situată în apropierea unui punct sursă de raze X ... ... Collegiate dicționar

microscop cu raze X - rentgeno mikroskopas statusas T sritis fizika atitikmenys: angl. X ray microscop vok. Röntgenmikroskop, n rus. microscop cu raze X, m pranc. microscop à raioanele X, m ... Fizikos terminų žodynas

microscop cu raze X - un dispozitiv pentru studiul microscopic. Structura de obiecte folosind radiografii. Acțiunea P. m. DOS. cu mare putere de penetrare și o schimbare bruscă în absorbția razelor X cu o schimbare la. n. elemente. Mai mult ... ... Great Dicționarul Enciclopedic Politehnica

microscop cu raze X - un dispozitiv pentru studiul microscopic. Structura de obiecte folosind radiografii. În proiecția. . (Shadow) site-uri m R. (.. Bot exemplu tăiate) este situat în apropierea unei surse de raze X punct; fascicul divergent strălucește ... ... natural. Dicționar Collegiate

ray laser microscop - (LR MSC) Dispozitiv sau cu raze X microscop c folosind raze laser caracterizat rezolutie oferind imagistica la subatomic, la nivel atomic bazat pe stimulat folosind fasciculul generat, de exemplu, ... ... Wikipedia

Microscop cu raze X - Aparat microscop cu raze X pentru studiul obiectelor foarte mici, cu dimensiuni comparabile cu lungimea de undă a razelor X. Ea se bazează pe utilizarea de radiație electromagnetică cu o lungime de undă de 0,01 până la 1 nanometri. Raze X ... ... Wikipedia

Microscop - In acest termen, există alte utilizări, a se vedea Microscop (dezambiguizare) .. Microscop 1876 ... Wikipedia

• microscop cu raze X. Dzhessi Rassel. Această carte va fi făcută în conformitate cu comanda pe tehnologia de imprimare Tehnologie-on-Demand. Conținutul de calitate înaltă prin articole wikipedia! X-ray microscopie n - Dispozitiv pentru ... Read More Cumpără pentru 998 de ruble